高低溫濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

來(lái)源：林頻儀器 時(shí)間：2018-05-04 11:43

高低溫濕熱試驗(yàn)箱的用途：

該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

產(chǎn)品型號(hào)規(guī)格：

型號(hào)規(guī)格 工作尺寸(mm)

HL-80 400×500×400

HL -150 500×600×500

HL -225 500×600×750

HL -408 600×800×850

HL -800 800×1000×1000

HL -1000 1000×1000×1000

高低溫濕熱試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特征：

1、內(nèi)壁：進(jìn)口SUS304不銹鋼

2、外殼：冷軋板靜電噴涂

3、保溫材料：硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡或超細(xì)玻璃棉，具有保溫性有好等特點(diǎn)

4、密封：進(jìn)口硅膠密封條

5、控溫濕方式：BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕

6、溫濕度調(diào)節(jié)儀：進(jìn)口韓國(guó)智能數(shù)顯PID整定調(diào)節(jié)儀，0.2級(jí)精度

7、加熱：不銹鋼翅片空氣加熱

8、加濕：淺槽蒸汽加濕

9、冷機(jī)：原裝進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)

10、設(shè)備供水凈化器

11、上電自動(dòng)進(jìn)水

12、對(duì)流系統(tǒng)：空調(diào)專用電機(jī)定制鋁風(fēng)葉

13、設(shè)備運(yùn)行定時(shí)器

14、箱門(mén)中央設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈

15、全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱的主要技術(shù)指標(biāo)：

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+100(150)℃

2 、濕度范圍：30%～98%RH，根據(jù)需求本設(shè)備可達(dá)20%RH

3 、溫度波動(dòng)度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差： +2/-3 %RH

6 、升降溫速率：0.6～1.2℃/min

高低溫濕熱試驗(yàn)箱的安全保護(hù)裝置：

1 、電源超載、控制回路過(guò)載、短路保護(hù)

2 、接地保護(hù)、電機(jī)過(guò)載保護(hù)

3 、超溫保護(hù)

4 、壓縮過(guò)壓、過(guò)載保護(hù)

5 、為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱的使用現(xiàn)場(chǎng)條件：

1.溫度：15℃~35℃

2.相對(duì)濕度：不大于85%RH

3.周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響

4.周?chē)鸁o(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

5.無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射

6.周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周?chē)諝庑枰獜?qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。

7.試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。

8.試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。

9.安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好

10.良好接地

該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造： GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法 GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則